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菲希尔X荧光射线测厚仪XDLM237信息
更新时间:2025-08-22   点击次数:14次

X荧光射线测厚仪XDLM237核心功能

适用于薄涂层的无损厚度测量和分析,包括低浓度涂层。

可对批量生产的零件和印刷电路板进行自动测量。

能无标准地分析涂层系统以及固体和液体样品(使用费舍尔基本参数法)。

可同时检测从氯(17)到铀(92)范围内的多达 24 种元素。

X荧光射线测厚仪XDLM237性能优势

采用比例计数管实现高计数率,保证测量精确性。

孔径和初级滤波器可电动更换,能为每次测量创造最佳条件。

具有出色的长期稳定性,显著减少校准工作。

配备快速、可编程的 X/Y 载物台,适合自动样品测量

应用领域

量产零件的测量

检测具有小测量点的薄涂层

电子和半导体行业中功能涂层的分析

印刷电路板等的自动测量


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