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菲希尔X荧光射线测厚仪XDLM237信息
更新时间:2025-08-22 点击次数:14次
X荧光射线测厚仪XDLM237核心功能:
适用于薄涂层的无损厚度测量和分析,包括低浓度涂层。
可对批量生产的零件和印刷电路板进行自动测量。
能无标准地分析涂层系统以及固体和液体样品(使用费舍尔基本参数法)。
可同时检测从氯(17)到铀(92)范围内的多达 24 种元素。
X荧光射线测厚仪XDLM237性能优势:
采用比例计数管实现高计数率,保证测量精确性。
孔径和初级滤波器可电动更换,能为每次测量创造最佳条件。
具有出色的长期稳定性,显著减少校准工作。
配备快速、可编程的 X/Y 载物台,适合自动样品测量
应用领域
量产零件的测量
检测具有小测量点的薄涂层
电子和半导体行业中功能涂层的分析
印刷电路板等的自动测量