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Surtronic DUO粗糙度仪：双参数同步测量的革新之作

Surtronic DUO粗糙度仪代表了表面粗糙度测量技术的一次重要革新。特点是能够同时测量并显示Ra和Rz两个关键粗糙度参数，改变了传统设备需分次测量的工作流程。这种双参数同步显示功能，让操作人员能够即时获取更全面的表面特征信息，大幅提升了检测效率。

该仪器采用了高精度压电式传感器，测量范围覆盖0.05-25μm Ra，分辨精度达到0.001μm，确保了测量结果的可靠性和重复性。人性化的设计体现在其配备的彩色显示屏上，测量数据、统计结果和曲线图谱一目了然。内置的大容量存储单元可记录上千组测量数据，并通过USB接口轻松导出，适配现代化质量管理的数据追溯需求。

在实际工业应用中，Surtronic DUO展现出的适应性。无论是在机械制造现场的快速抽检，还是实验室内的精密分析，它都能提供值得信赖的测量结果。其坚固的外壳设计和符合人体工学的握持感受，保障了在各类工业环境下的持久稳定表现，成为质量工程师和检测人员的理想伙伴。